El sistema de microfluorescencia de rayos X XGT-9000 combina una sensibilidad mejorada con una nueva tecnología de imágenes para lograr el análisis de alta velocidad de materiales extraños en una sola unidad.

XGT-9000Características

  • Análisis simple sin necesidad de preparación
  • Análisis no destructivo
  • Se puede acceder rápidamente a los puntos de medición a través de la observación óptica de alta precisión, incluso en el rango microscópico
  • Variedad de software de análisis de imágenes
  • Mapeo de imágenes claras y de alta velocidad
  • Observación de imágenes ópticas claras e irradiación coaxial de rayos X. Equipado con tres tipos de iluminación: coaxial, circundante y de transmisión
  • Empleo de la tecnología de imágenes basada en la técnica de imágenes Raman
  • Nueva solución en el análisis de materiales extraños

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