El microscopio de sonda de barrido SmartSPM es el primer sistema 100% automatizado con tecnología de vanguardia para mediciones ultrarrápidas, metrológicas y de alta resolución de materiales a nanoescala en todos los modos AFM y STM. 

SmartSPM

Su diseño ha sido desarrollado con el fin de poder combinarse perfectamente con las técnicas de espectroscopía óptica (SNOM, Raman, Fotoluminiscencia y técnicas TERS/SERS).

Características:

  • Rango de escaneo de la muestra: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)
  • Tamaño de la muestra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de grosor
  • Resolución molecular o atómica gracias a un único escáner de 100 µm
  • No requiere aislamiento de vibraciones para las mediciones estándar
  • Alineación láser totalmente automatizada
  • Configuración totalmente automatizada para los modos más comunes de AFM
  • Escaneo rápido gracias a los algoritmos de control optimizados y a las altas frecuencias de resonancia de los escáneres (>7kHz en XY y >15kHz en Z).
  • El paquete básico incluye todos los modos SPM y el de Nanolitografía
  • Acoplamiento sencillo con los sistemas Raman

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