SmartSPM
El microscopio de sonda de barrido SmartSPM es el primer sistema 100% automatizado con tecnología de vanguardia para mediciones ultrarrápidas, metrológicas y de alta resolución de materiales a nanoescala en todos los modos AFM y STM.
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Su diseño ha sido desarrollado con el fin de poder combinarse perfectamente con las técnicas de espectroscopía óptica (SNOM, Raman, Fotoluminiscencia y técnicas TERS/SERS).
Características:
- Rango de escaneo de la muestra: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)
- Tamaño de la muestra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de grosor
- Resolución molecular o atómica gracias a un único escáner de 100 µm
- No requiere aislamiento de vibraciones para las mediciones estándar
- Alineación láser totalmente automatizada
- Configuración totalmente automatizada para los modos más comunes de AFM
- Escaneo rápido gracias a los algoritmos de control optimizados y a las altas frecuencias de resonancia de los escáneres (>7kHz en XY y >15kHz en Z).
- El paquete básico incluye todos los modos SPM y el de Nanolitografía
- Acoplamiento sencillo con los sistemas Raman
