XploRA Nano

Sistema compacto, totalmente automatizado y fácil de usar. El XploRA Nano concentra la potencia del Raman-AFM en un paquete asequible, pero con todas las características, haciendo que la tecnología TERS sea una realidad. 

Características:

• Rango de escaneo de la muestra: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)
• Tamaño de la muestra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de grosor
• Plataforma de análisis multimuestra: permite realizar mediciones a macro, micro y nano escala en la misma plataforma
• Fácil de usar: operación totalmente automatizada, ¡comienza a medir en minutos, no en horas!
• Totalmente confocal: alta resolución espacial, plataformas motorizadas para mapping, opciones completas de visualización en el microscopio.
• Alta eficiencia de recolección: detección Raman en diferentes direcciones para una resolución y rendimiento óptimos en medidas co-localizadas y Tip-Enhanced (Raman y Fotoluminiscencia)
• Alta resolución espectral: máximo rendimiento de resolución espectral, múltiples rejillas con conmutación automática, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL
• Alta resolución espacial: resolución a nivel nanométrico (hasta 10 nm) mediante espectroscopia Tip-Enhanced.
• Multi-técnica / Multi-ambiente: numerosos modos SPM que incluyen AFM, modos conductivos y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico, junto con mapeo químico a través de TERS / TEPL. El control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente control de software, SPM y espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente
• Robustez / Estabilidad: escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia. Se obtiene un alto rendimiento sin aislamiento activo de vibraciones