Elipsometría
El hecho de que esta tecnología mida los cambios de estado de polarización, en lugar de la intensidad absoluta de la luz, convierte a la elipsometría en una técnica altamente sensible incluso a capas finas de apenas algunos angstroms (Å)
La elipsometría es una técnica de análisis óptico. Esta tecnología se basa en el cambio de estado de polarización de la luz que incide sobre el material a estudiar. Al tratarse de una técnica óptica, este análisis es no destructivo y se puede utilizar para determinar el espesor de capas delgadas, índice de refracción, coeficiente de extinción, etc.
Productos de esta categoría
Elipsómetros espectroscópicos: SENresearch
El elipsómetro espectroscópico SENresearch 4.0 cubre el rango espectral más amplio de 190 nm (Deep UV) a 3.500 nm (NIR).
Elipsómetros láser
Herramienta de referencia de alta precisión para el índice de refracción y espesor de la película.
Medición de: espesor, índice de refracción, extinción, etc .
Aplicaciones: revestimientos AR para PV, películas individuales, etc
Reflectometría
Rango espectral: 200 nm (DUV) a 2,5 µm (IR)
Medición de: espesor, índice de refracción, extinción, etc.
Aplicaciones: resinas fotoeléctricas, dieléctricos, orgánicos, etc.
