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TESCAN S8000 | Microscopio SEM

TESCAN S8000: La resolución más alta y las mejores condiciones para el microanálisis garantizadas en un solo instrumento.

Logo TESCAN



S8000 tescan El microscopio electrónico de barrido (SEM) de la serie S8000 de TESCAN satisface las necesidades más exigentes de calidad de imagen y microanálisis de muestras que surgen rutinariamente en diferentes campos de la investigación y tecnología. Los investigadores ahora pueden beneficiarse de todas las ventajas de la ultra alta resolución sin campo lograda por la nueva tecnología de columna TESCAN BrightBeam™ SEM que ofrece una excelente calidad de haz en todas las corrientes y un rendimiento de imagen de primera clase con un contraste excepcional a bajas energías. La nueva plataforma de software TESCAN Essence™ es el componente clave que hace que el TESCAN S8000 sea un microscopio fácil de usar; cualquier usuario puede obtener imágenes excelentes sin esfuerzo y rápidamente gracias a su interfaz gráfica de usuario personalizable y simplificada y a sus asistentes orientados al flujo de trabajo que garantizan una alta productividad en su laboratorio y un mínimo tiempo de análisis de datos.

Cuando se trata de versatilidad, el microscopio TESCAN S8000 ofrece una plataforma analítica verdaderamente flexible que ofrece una excelente calidad de imagen con un excelente contraste. Ya sea con muestras conductoras o aislantes, magnéticas o no magnéticas, orgánicas o inorgánicas, el microscopio TESCAN S8000 ofrece las condiciones ideales para la obtención de imágenes gracias a su avanzado sistema de detección con capacidades de filtrado de señales electrónicas y operaciones de presión variable.


Características principales:
  • Nueva tecnología de columna SEM BrightBeam™ para UHR.Detectores YAG de primera clase.
  • Nueva columna BrightBeam™ SEM con lente de objetivos electrostática-magnética combinada patentada de 70° para máxima universalidad. Gran selección de detectores y accesorios.
  • Imagen de ultra alta resolución sin campo para máxima versatilidad en imágenes y análisis, incluida la investigación de muestras magnéticas. Investigación de muestras no conductoras en la versión de presión variable (SBU).
  • El nuevo sistema de detección, que incluye el detector Axial In-Beam y el multidetector para la colección de señales electrónicas selectivas de ángulo y energía, otorga un control completo sobre la sensibilidad de la superficie y la opción de explorar con diferentes contrastes.
  • Nuevo cañón de electrones Schottky de emisión de campo que ahora permite corrientes de haz de electrones de hasta 400 nA y cambios rápidos en la energía del haz.
  • El rango de energía del haz de electrones ampliado es inferior a 50 eV sin depender de la desaceleración del haz de polarización de la muestra.
  • Nueva generación de electrónica con hasta 8 canales de señal en vivo simultáneamente.
  • Tecnología de lente EquiPower™ para una eficiente disipación de potencia térmica y una excelente estabilidad de la columna de electrones.
  • Beam Deceleration Technology (BDT) para una resolución mejorada a energías de haz de electrones bajas y ultrabajas con detección simultánea de señales SE y BSE.
  • Nueva plataforma de software Essence™ y GUI optimizada con diseño personalizable específico de la aplicación, asistentes orientados al flujo de trabajo, modelo de colisión 3D, cuadro de búsqueda rápida, deshacer-rehacer, editor de plantillas de informes, procesamiento de imágenes, entorno multiusuario en varios idiomas.

3D_collision_model tescan s8000


Catálogo con información técnica de TESCAN S8000 haciendo click aquí.

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